- 4072 Sistem Ujian Parametrik Automatik
- 4073 Sistem Ujian Parametrik Automatik
- Sistem Ujian Parametrik Automatik 4082A
- Sistem Ujian Analog/Isyarat Campuran
- Sistem Ujian Fungsian (Mikropengawal dan IC Pengguna)
- Sistem Ujian Kerosakan Plasma dan Suntikan Pembawa Panas (Degradasi HCI) (Automatik)
- Pencemaran Ionik Mudah Alih (MIC), Elektromigrasi, Pengukuran CV dan Integriti Oksida Gate
- Sistem Ujian (Manual)
- Pemodelan dan Simulasi Peranti untuk Reka Bentuk Peranti & IC (BSIM3v3)
- Pemodelan Parasit Interkoneksi
- Sistem CV Keithley
- Sistem IV Keithley
- Sistem HP IV
- Sistem Pengisaran Belakang
- Alatan Kendiri Perisian Analisis Statistik JMP dan Minitab
- Analisis Data Bersepadu