MAKMAL PENGUJIAN WAFER & IC MIMOS

MIMOS BERHAD MALAYSIA
  • 4072 Sistem Ujian Parametrik Automatik
  • 4073 Sistem Ujian Parametrik Automatik
  • Sistem Ujian Parametrik Automatik 4082A
  • Sistem Ujian Analog/Isyarat Campuran
  • Sistem Ujian Fungsian (Mikropengawal dan IC Pengguna)
  • Sistem Ujian Kerosakan Plasma dan Suntikan Pembawa Panas (Degradasi HCI) (Automatik)
  • Pencemaran Ionik Mudah Alih (MIC), Elektromigrasi, Pengukuran CV dan Integriti Oksida Gate
  • Sistem Ujian (Manual)
  • Pemodelan dan Simulasi Peranti untuk Reka Bentuk Peranti & IC (BSIM3v3)
  • Pemodelan Parasit Interkoneksi
  • Sistem CV Keithley
  • Sistem IV Keithley
  • Sistem HP IV
  • Sistem Pengisaran Belakang
  • Alatan Kendiri Perisian Analisis Statistik JMP dan Minitab
  • Analisis Data Bersepadu