ANALISIS KEGAGALAN MIMOS, ANALISIS BAHAN & NANO

Sinar-X 2D + Sinar-X 3D 

Pengesan Lengkung (Logik + Voltan Tinggi + Arus Tinggi)

Mikroskop Pelepasan Foton (PEM)

Perubahan Rintangan Teraruh Pancaran Optik (OBIRCH)

Mikroskop Pelepasan Terma (IR Terma)

Kesan Dewan 

Dekapsulator Laser & Kimia 

Pengilangan / Penggilapan Ion

Penggilapan Mekanikal

Sistem Salutan Pengukir Ketepatan (PECS)

Mikroskopi Probe Pengimbasan (SPM) 

Macroindenter + Nanoindenter + SPM 

Profilometer Stilus

Mikroskop Konfokal & Digital

Mikroskop Daya Atom (AFM) – Elektrik, Konduktif, Magnet, Cecair 

Spektrometer Penyebaran Tenaga (EDS) 

Pembelauan Sebaran Balik Elektron (EBSD) 

Spektroskopi Sebaran Panjang Gelombang (WDS) 

Spektroskopi Kehilangan Tenaga Elektron (EELS) 

Mikroskop Elektron Penghantaran Pengimbasan (STEM) 

Mikroskop Katodoluminesen (CL) 

FEG-Mikroskop Elektron Pengimbasan (FESEM) + EDS 

Mikroskop Elektron Pengimbasan FEG Tekanan Berubah-ubah (VP-FESEM) + STEM + CL + EDS + EBSD + WDX 

Rasuk Dwi (FIB+FESEM) + EDS + STEM 

Mikroskop Elektron Penghantaran (TEM) + STEM + EDS + EELS 

Ultramikrotom Krio 

Spektroskopi Elektron Auger (AES) – Pemprofilan Kedalaman, Pemetaan

Spektrometri Jisim Ion Sekunder Masa-Penerbangan (ToF-SIMS) – Pemprofilan Kedalaman, Pemetaan

Spektroskopi Fotoelektron Sinar-X (XPS) – Pemprofilan Kedalaman, Pemetaan

Spektroskopi Kehilangan Tenaga Elektron Pantulan (REELS)

Spektroskopi Penyebaran Ion (ISS) 

Spektroskopi Fotoelektron Ultraungu (UPS)

Spektroskopi Fotoelektron Sinar-X (XPS) + REELS + ISS + UPS

Spektroskopi RAMAN – UV, PL, Biru, Merah, Hijau

Spektroskopi Inframerah Transformasi Fourier (FTIR) – MikroATR, Pemetaan (FPA) 

Spektroskopi Ultraviolet-Kelihatan-Inframerah Dekat (UV-Vis-NIR)